菲希爾DualScope FMP20涂鍍層測厚儀

Dualscope®FMP20：
由于自動(dòng)基板材料識(shí)別和兩種測量方法的結(jié)合，該通用儀器能夠測量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導(dǎo)電材料上的許多涂層。根據(jù)您的測量應(yīng)用，您可以根據(jù)磁感應(yīng)法（Deltascope®FMP10），渦流法（Isoscope®FMP10）或根據(jù)兩種方法組合在一臺(tái)儀器（Dualscope®FMP20）中進(jìn)行的涂層厚度測量。
DualScope FMP20涂層測厚儀二合一機(jī)型符合：ISO 2178,2360,2808; EN ISO 19840; ASTM B499; D1186，D1400，D7091，E376，G12;SSPC-PA2;BS3900-C5; BS EN ISO 1461; IMO PSPC

菲希爾DualScope FMP20涂鍍層測厚儀
特征：
適用于所有磁感應(yīng)和渦流探頭
自動(dòng)探頭識(shí)別
自動(dòng)基材識(shí)別（FMP 20）
用戶友好的儀器操作
用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C的USB端口
大，顯示與240x160像素豐富的對(duì)比
準(zhǔn)備在上電后進(jìn)行測量
探頭放置時(shí)自動(dòng)測量采集
內(nèi)存多達(dá)1000個(gè)讀數(shù)
測量采集時(shí)的聲音信號(hào)
共同特征值的統(tǒng)計(jì)顯示，如平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，zui小值，
zui大，范圍
通過ZERO鍵通過歸一化，輕松適應(yīng)樣品的形狀
對(duì)于強(qiáng)大的形狀差異，使用一個(gè)或兩個(gè)校準(zhǔn)箔進(jìn)行額外的校正校準(zhǔn)
在材料和幾何特性的情況下，特性設(shè)置的主校準(zhǔn)
將主校準(zhǔn)存儲(chǔ)在連接的探頭中的能力
測量單位可以在μm和mil之間切換
可調(diào)節(jié)儀器關(guān)閉或連續(xù)操作
顯示各種狀態(tài)（例如，當(dāng)電池電壓下降時(shí)的警告信息）
可鎖定鍵盤/限制操作模式
機(jī)械滑塊覆蓋測量操作不需要的鍵
各種語言設(shè)置
磁感應(yīng)測量原理:
采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動(dòng)勢的大小，儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。

上海吉馨實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司 致力于長度計(jì)量儀器，光學(xué)儀器、形狀類儀器，材料檢測儀器，涂裝與表面處理檢測儀器的銷售與維護(hù)服務(wù)。主要代理德國EPK涂層測厚儀產(chǎn)品，并且我司具有許可進(jìn)出口經(jīng)營權(quán)。本公司有專業(yè)銷售和技術(shù)人員，為客戶提供方信守合同便，快捷的售前（演示設(shè)備、介紹技術(shù)）售中（為客戶選型、滿足客戶要求），售后服務(wù)（設(shè)備維護(hù)、保養(yǎng)問題）在客戶需要的時(shí)候，我們的專業(yè)人員能夠即來到客戶現(xiàn)場，提供急需的服務(wù)。